inTEST ThermoStream ATS-545 技术参数：
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型号
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温度范围 °C
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* 变温速率
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输出气流量
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温度
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温度显示
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温度
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ATS-545
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-75 至 +
225(50 HZ)
-80 至 + 225(60 HZ)
不需要LN2或LCO2冷却
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-55至 +125°C
约 10 S 或更少
+125至 -55°C
约 10 S 或更少
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4至18
scfm
1.9至8.5 l/s
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±1℃
通过美国NIST 校准
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±0.1℃
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T或K型
热电偶
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* 一般测试环境下; 变温速率可调节
inTEST ThermoStream 高低温冲击测试机功能特点：
与友厂对比, inTEST ThermoStream 自动复叠式制冷系统 (auto cascade refrigeration) 保证低温, 内置 AC 交流压缩机, 冷冻机 Chiller 特殊设计, 制冷剂不含氟利昂, 无毒, 不易燃, 保护环境; ESD 防静电保护设计
旋钮式控制面板, 支持测试数据存储
过热温度保护: 出厂设置温度 +230°C
加热模式下, 冷冻机可切换成待机模式, 以减少电力消耗
干燥气流持续吹扫测试表面, 防止水气凝结
inTEST 高低温测试方法：提供两种检测模式 Air Mode 和 DUT Mode
通过热流罩或测试腔将被测 IC 与周边环境隔离，然后对 IC 循环喷射冷热气流，使IC 温度短时间发生急剧变化，从而完成温度循环和温度冲击的测试。
inTEST 高低温冲击测试机 ATS-545-M 尺寸：
宽61x深72.4 x高 108 cm
重量 365 kg
手臂延展最大 160 cm
标准最高操作高度 130.3 cm;(可选188 cm)
标准最低操作高度 69.1 cm;(可选81.3 cm)
噪音 < 65 dBA
与传统高低温测试箱, 温湿度测试箱对比, inTEST ThermoStream 高低温测试机主要优势：
1. 变温速率更快
2. 温控精度：±1℃
3. 实时监测待测元件真实温度，可随时调整冲击气流温度
4. 针对 PCB 电路板上众多元器件中的某一单个IC(模块), 可单独进行高低温冲击, 而不影响周边其它器件
5. 对测试机平台load board上的IC进行温度循环 / 冲击; 传统高低温箱无法针对此类测试。
6. 对整块集成电路板提供准确且快速的环境温度
inTEST 高低温冲击热流仪应用
车载芯片及器件, 电源芯片, 功率器件, 通信芯片, 光纤收发器等温度冲击测试.
美国 inTEST ThermoStream 系列高低温冲击热流仪, 温度冲击范围 -100 ℃ 至+ 300 ℃, 防静电设计, 不需要 LN2 或 LCO2 冷却, 温度显示精度: ±1℃, 通过 NIST 校准. 通过 ISO 9001, CE, RoHS 认证. inTEST 热流仪提供适用于 RF 射频, 微波, 电子, 功率器件, 通信芯片等温度测试, 满足芯片特性和故障分析的需求.